Analysetechnik
Höhere Signalqualität
Hamamatsu Photonics stellt eine überarbeitete Generation seiner MEMS-FPI-Spektroskopiemodule vor. Die kompakten Sensoren C17752, C17753 und C17754 für den kurzwelligen Infrarotbereich (SWIR) bieten ein verbessertes Signal-Rausch-Verhältnis sowie eine effektivere Streulichtunterdrückung. Dadurch ermöglichen sie eine präzisere und zuverlässigere Materialanalyse, insbesondere in kosten- und platzkritischen Anwendungen.
Wesentliche Vorteile
Die Optimierungen der überarbeiteten MEMS-FPI-Module erhöhen die Messstabilität und spektrale Genauigkeit. Gleichzeitig bleiben bei effizienter SWIR-Analyste Integrationsaufwand und Kosten gering.
Zu den wichtigsten Vorteilen gehören:
- Verbessertes Signal-Rausch-Verhältnis für stabile und reproduzierbare Spektralmessungen
- Verbesserte Streulichtunterdrückung für klarere und präzisere Spektraldaten
- Kompaktes, integriertes Design für Anwendungen mit begrenztem Bauraum und für „embedded“-Systeme
- Optionaler Faseradapter mit integrierter Linse für Transmissionsmessungen und flexiblem Aufbau
- USB-Plug-and-Play-Schnittstelle für schnelle Inbetriebnahme ohne aufwendige optische Justage
- Kosteneffiziente Lösung für den einfachen Zugang zur SWIR-Spektroskopie
Einsatzbereiche
Das verbesserte MEMS-FPI-Modul eignet sich für eine Vielzahl von industriellen und analytischen Anwendungen, darunter:
- Materialsortierung
- Qualitätskontrolle und -prüfung
- Prozessüberwachung
- Embedded und mobile Spektroskopiesysteme
- Forschung und Entwicklung in Labor und Industrie
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